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电路板特性阻抗测试 1109
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电路板特性阻抗测试 1109简介
应用TDR方式对高速,高频率电路板进行特性阻抗测试 TDR(时间领域反射测试法): 是一种评价传输线路特性阻抗的不均一性的测试手段 最大测试基板面积600 × 500mm 测试头内置带宽40GHz高频率探针,可进行高精度,宽带宽的测试 使用镜头及激光变位仪保证高精度测试,X-Y-Z-θ轴自动对位 配备高精度标准阻抗校正板,对测试误差进行自动校正
电路板特性阻抗测试 1109详细参数
详细说明
应用TDR方式对高速,高频率电路板进行特性阻抗测试
TDR(时间领域反射测试法): 是一种评价传输线路特性阻抗的不均一性的测试手段
最大测试基板面积600 × 500mm
测试头内置带宽40GHz高频率探针,可进行高精度,宽带宽的测试
使用镜头及激光变位仪保证高精度测试,X-Y-Z-θ轴自动对位
配备高精度标准阻抗校正板,对测试误差进行自动校正
电路板特性阻抗测试 1109备注
1.产品规格由产品制造商提供。
2.以上产品规格及功能只供參考,如有更改,恕不预先通知。
3.产品价格,如有更改,恕不预先通知。
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